台灣半導體研究中心

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高頻量測儀器列表

晶片系統量測
高頻量測
奈米與功率元件量測
超低溫電性量測

量測使用相關規範：請至「預約系統」儀器簡介查詢下載

晶片系統量測

地區	設備編號	設備名稱	儀器介紹	聯絡窗口	自行操作
新竹	HF-201	影像截取 (晶片照相)	🔗	張小姐 7192
	HF-202	鋁線打線機SUB668	🔗	張小姐 7192	V
	HF-203	雷射切割系統	🔗	張小姐 7192	V
	HF-204	示波器 (Lecroy LT584)	🔗	張小姐 7192
	HF-M01	微機電量測系統	🔗	張先生 / 王先生 7202 / 7247
	HF-P01	高頻高速光電量測系統	🔗	林先生 7273
	HF-P02	矽光子光學量測系統	🔗	蘇先生 7257
	HF-S01	ADVANTEST V93000 PS1600 (自動測試系統)	🔗	吳先生 7196
台南	ST-201	高階類比量測系統	🔗	吳先生 8107
	ST-301	可程式恆溫恆濕試驗系統	🔗	吳先生 8107
	ST-302	鋁線打線機	🔗	劉先生 8109
	ST-303	電路板雕刻機	🔗	劉先生 8109
	ST-304	晶片照相系統	🔗	劉先生 8109

高頻量測

地區	設備編號	設備名稱	儀器介紹	聯絡窗口	自行操作
新竹	HF-003	67 GHz元件高頻S參數量測系統	🔗	林先生 7774	V
	HF-004	高頻雜訊參數量測系統	🔗	林先生 7774	V
	HF-005	高頻功率參數量測系統	🔗	莊先生 7574	V
	HF-006	客製化高頻電路量測系統	🔗	沈先生 7630	V
	HF-009	110 GHz元件高頻S參數量測系統	🔗	陳先生 7544
	HF-010	非線性向量網路分析量測系統	🔗	莊先生 7574
	HF-013	毫米波雜訊/功率參數量測系統	🔗	莊先生 7574
	HF-014	220 GHz元件高頻S參數量測系統	🔗	鄧先生 7633
	HF-015	110 GHz諧波負載拉移量測系統	🔗	錢先生 7650,7607
	HF-101	40 GHz量測系統	🔗	楊小姐 7667
	HF-101-01	調變信號量測 (40 GHz量測系統)	🔗	蔡小姐 7736
	HF-102	67 GHz量測系統	🔗	沈先生 7630
	HF-102-01	調變信號量測 (67 GHz量測系統)	🔗	沈先生 7630
	HF-103	信號源參數量測系統	🔗	蔡小姐 7736
台南	ST-101	S參數/X參數/射頻積體電路/負載拉移量測服務	🔗	蕭先生 8206
台南	ST-102	天線量測系統	🔗	凃先生 8112

奈米與功率元件量測

地區	設備編號	設備名稱	儀器介紹	聯絡窗口	自行操作
新竹	HF-001	奈米元件參數量測系統	🔗	林先生 7638,7456	V
	HF-007	元件低頻雜訊參數量測系統	🔗	林先生 7638,7456	V
	HF-011	IV & CV電性量測系統	🔗	林先生 7638,7456	V
	HF-012	功率元件量測系統	🔗	陳先生 7570,7456

超低溫電性量測

地區	設備編號	設備名稱	儀器介紹	聯絡窗口	自行操作
新竹	HF-016	4K 超低溫探針量測平台	🔗	陳先生 7570,7456	V