TAF 17025認證
材料量測分析有八項量測技術認證:
包括AFM階高量測、AFM 線距量測、TEM 線距量測、SEM 線距量測、SEM 表面影像觀測、SIMS 硼元素縱深分析、X 光繞射儀之相鑑定與X 光光電子能譜儀表面定性分析，並於 2008 年 1 月 3 日完成國際實驗室認證聯盟相互承認協議(ILAC MRA) 的合約簽署，代表實驗室的檢測能力已達到國際水準，與全球 67 個國家 81 認證機構之認可實驗室具有技術同等性。
包括AFM階高量測、AFM 線距量測、TEM 線距量測、SEM 線距量測、SEM 表面影像觀測、SIMS 硼元素縱深分析、X 光繞射儀之相鑑定與X 光光電子能譜儀表面定性分析，並於 2008 年 1 月 3 日完成國際實驗室認證聯盟相互承認協議(ILAC MRA) 的合約簽署，代表實驗室的檢測能力已達到國際水準，與全球 67 個國家 81 認證機構之認可實驗室具有技術同等性。
認證費用
TAF-ISO17025證書費: 學界 5,000元/份；業界 10,000 元/份。
認證流程
連繫窗口預約 → 廠商送測 → 測試量測 → 報告審查 → 繳費 → 取回樣品及報告
連絡窗口
周棟煥先生 分機: 7553 or 7424
e-mail: thchou@narlabs.org.tw
TAF 測試報告範本
(提供內部同仁送的案件，請連結開啟)