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材料分析收費標準

學界自行操作:以訂價*10%收費。
學界(含中研院)委託代工:技術服務費以學界訂價*10%收費,材料費100%收費。
業界自行操作:不開放。
業界委託代工:以業界訂價收費。
TAF-ISO17025證書費: 學界 5,000元/份;業界 10,000 元/份

注意事項:
  1. 自行操作預約/委託服務申請:請至 製程與量測分析服務系統 / MES系統 申請。
  2. 委託代工時數未達半小時(30分)者以半小時計。

設備編號 設備名稱 收費標準
自行操作
收費標準
(元/秒)
委託代工
收費標準
(元/小時)
備註
NM-002 大試片掃描探針顯微鏡(8吋晶片) (AFM) 0.45 -- 只限自行操作
TAF-ISO17025認證 - 1.線距量測 ; 2.階高量測 --
NM-005 離子減薄機 0.1 --  
NM-006 場發射穿透式電子顯微鏡 (TEM) 1.5 10,800  
TAF-ISO17025認證 - 1.線距量測 --
NM-008 X光薄膜繞射儀 (XRD) θ-2θ scan / GIXRD 0.6 50
元/分
 
TAF-ISO17025認證 - 1.相鑑定 --  
NM-009 熱場發射掃描式電子顯微鏡 (TFSEM) 0.6 3,500  
TAF-ISO17025認證 - 1.線距量測 ; 2.表面影像觀測 --
液態試片影像觀測
NM-010 試片製備--Silicon 製程 Cross-section 0.2 15,000/片  
 
試片製備--Sapphire 製程 Cross-section 0.2 20,000/片  
 
試片製備--其它製程 0.2 依材料特性估價  
NM-013 二次離子質譜儀(SIMS) -- 學界:5,000
業界:11,000/單位
 
TAF-ISO17025認證 - 1.硼元素縱深分析
NM-014 電性掃描探針顯微鏡D3100 32
元/分
AFM:50
電性掃描:67
(元/分)
 
NM-015 X光光電子能譜儀 100
元/分
120
元/分
 
TAF-ISO17025認證 - 1.表面定性分析 --
NM-016 微觀富氏轉換紅外線儀(Micro-FTIR) 18
元/分
學界:25元/分
業界:35元/分
 
NM-017 多模式原子力顯微鏡(ICON) 50
元/分
67
元/分
1,700
高解析AFM需增加材料費
NM-018 奈米尺度電性縱深分析(DHEM)   7,000  
NM-019 奈米壓痕(Nanoindenter) 0.72 3,600  
NM-020 顯微拉曼光譜儀(Micro-Raman) 33.3元/分 學界:66.7元/分
業界:66.7元/分
自行操作只限學界