| 技術推廣| 創新晶片設計
友善列印 facebook分享(另開新視窗)

積體電路電磁相容技術



研究說明

積體電路電磁相容之量測技術與設計對策

研究重點

  • IEC 61967、62132標準之量測技術
  • 寬頻IC-EMC量測技術開發
  • 晶片層級對策電路設計與IC整合設計流程

研發成果

  • 建置國際標準測試技術與對策電路範例,協助產官學界團隊進行IC-EMC主題之研發。
  • 寬頻傳導式EMC量測技術: IEC 61967-4 up to 13 GHz)、IEC 62132-4 up to 18 GHz。